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回路電阻測(cè)試與直流電阻值測(cè)試最容易產(chǎn)生誤區(qū)

來(lái)源：萬(wàn)利隆電子 閱讀量：2000發(fā)布時(shí)間：2019-03-07
回路電阻測(cè)試與直流電阻值測(cè)試最容易產(chǎn)生誤區(qū)，在很多情況下很多人不理解這兩種電阻測(cè)試到底有什么不同之處，而且很容易將這兩種電阻測(cè)試混淆。事實(shí)上回路電阻測(cè)試與直流阻值測(cè)試都是用來(lái)測(cè)試電阻的，且同樣采用直流壓降法，許多人就以為都一樣，可以交替使用，其實(shí)兩者還是有區(qū)別的，下面我們就來(lái)分析這兩種電阻不同之處。
回路電阻測(cè)
首先我們要了解這兩種電阻測(cè)試的概念，所謂的回路電阻一般阻值極小為微歐級(jí)別，是指隔離開(kāi)關(guān)、斷路器的導(dǎo)通接觸電阻。但是，這些裝置的觸點(diǎn)扱易被氧化。所以在做可檢測(cè)時(shí)必須通大電流破壞氧化膜，這樣才翻得回路真實(shí)直流電阻值。這種回路不存在阻抗(感抗和容抗），所以通電流可以極快地測(cè)得阻值。

而直流電阻試定義為：電阻測(cè)試采用變壓器、電動(dòng)機(jī)等繞組的直流電阻，由于此類設(shè)備電路中同時(shí)存在感抗和(或)容抗，如果通入大電流測(cè)試是不可能的，除自身有很大容量的測(cè)試裝置(如蓄電池組等），但是不是很經(jīng)濟(jì)，所以目前專用的直流電阻測(cè)試儀。
回路電阻測(cè)
回路電阻測(cè)試與直流電阻值測(cè)試從被試品來(lái)看，回路電阻儀測(cè)試的主要是阻性負(fù)載，并且都是微電阻測(cè)試，直流電阻儀測(cè)試的主要是感性負(fù)載，阻值范圍相對(duì)也比較大，兩者并不能替換使用，如果有回路電阻儀去測(cè)感性負(fù)載，極可能就會(huì)損壞設(shè)備，目前市場(chǎng)上并沒(méi)有兩種儀器的合成型，因?yàn)閮煞N設(shè)備合成一種設(shè)備的話，那即要滿足大電流，又要滿足測(cè)試阻值比較大的感性負(fù)載，成本很高，設(shè)備體積也很大。

回路電阻測(cè)
 
目前使用回路電阻測(cè)試與直流電阻值測(cè)試的這兩種設(shè)備會(huì)有一個(gè)重合區(qū)，設(shè)計(jì)出一種綜合性設(shè)備難點(diǎn)在于輸出功率，但是無(wú)此必須性，在我們選擇的時(shí)候，我們遵循選擇使用為宜，而不是盲目的去追求性能，只有合適當(dāng)前電阻測(cè)試環(huán)境下，進(jìn)行選擇使用回路電阻測(cè)試與直流電阻值測(cè)試才是正確的選擇。

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